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科邁斯科技股份有限公司

  • X射線熒光鍍層厚度測量儀

    FT160為微型電子器件的微焦斑分析，這款不會過時的儀器，專為微焦斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，可應(yīng)對日益小型化的電子行業(yè)及PCB板鍍層的挑戰(zhàn)
    型號： FT160 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2025/2/11 9:51:23 對比

  • X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230

    FT230的每一個部分都是為了準(zhǔn)確測試，并大幅減少分析時間而設(shè)計的
    型號： FT230 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2025/2/11 9:50:00 對比

  • 橢圓偏振光譜儀

    特點規(guī)格量測厚度,反射率,吸收率,表面結(jié)構(gòu)量測波長632
    型號： Semilab S... 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2025/2/11 9:43:23 對比

  • X射線熒光鍍層厚度測量儀

    基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液...
    型號： X-Strata9... 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/8/22 15:12:12 對比
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